HAST (非饱和)高压加速老化试验箱

HAST高压加速老化试验箱的目的是提高环境应力温度、湿度)与工作应力(施加给产品的负荷等),在非饱和湿度(65%.RH~100%.RH)温度、压力的条件下，检测产品或材料在耐高温高湿能力可靠性的设备。从而有效缩短试验验证时间，提高验证效率，降低验证成本，为研究提高产品的可靠性提供充分的依据。本设备广泛应用于IC半导体连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业之相关产品加速老化寿命试验，相对于传统的高温高湿试验设备要高效10倍有余。

HAST  (非饱和)高压加速老化试验箱执行及满足标准

JESD22-A102E-2015加速水汽抵抗性--无偏置高压蒸煮(PCT)

JESD22-A110E.01-2021高加速温湿度应力试验(HAST)(有偏置电压未饱和高压蒸汽)

JESD22-A118B.01-2021加速水汽抵抗性--无偏压HAST(无偏置电压未饱和高压蒸汽)

IEC60068-2-66:1994(GB/T2423.40-2013)环境试验第2部分：试验方法试验Cx:未饱和高压蒸汽恒定湿热

IEC60749-4:2017(GB/T 4937.4-2012)半导体器件机械和气候试验方法第4部分：强加速稳态湿热试验(HAST)

HAST  (非饱和)高压加速老化试验箱特点

A.高精度测试系统

可靠温度测试模块+三菱PLC组成，高精度的整体控制系统；

B.本产品采用双箱体测试结构，测试箱体和蒸汽发生器相互合作，独立动作。与单箱体系统蒸汽在测试箱体内生成不同，测试箱体(干)与蒸汽发生器(湿间的相互干扰降低。此外，设置在测试箱体内温度控制，则由内部加热系统很好地保证，因此双箱体可与单箱体系统媲美的大跨度的湿度调节范围，能为测试提供一个适当和稳定的环境，而且偏压测试可精确实施。高效可靠的测试非常重要，因为它能保证和传统THB测试的紧密联系和互动；

C.一键式电子门锁(按钮)和滑动托盘

使用电子门锁只需按动按钮，门就可以实现打开或者关闭；滑动托盘可让托盘与门同时打开。这样，使用者就无须在测试刚结束温度高的时候就将手伸入测试箱体取放测试样品；

D.偏压测试接头

偏压测试接线柱位于门上，方便接线；端子数量/电流可定制；

E.降压方式

根据测试的目的不同，可选不同的降压方式(三种模式可选)；

F.多种测试方法

HAST非饱和蒸汽测试方法、PCT饱和蒸汽测试方法同时满足；

G.安全排水

测试完成的水，经冷却之后再排出。

技术参数